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產(chǎn)品展示-
- SRM 1992 Zeta電位-膠體二氧化硅標準品
SRM 1992 - Zeta電位-膠體二氧化硅（標稱質(zhì)量分數(shù) 0.15 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：4 x 5 mL
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- SRM 1993 Zeta電位-膠體二氧化硅標準品
SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅（標稱質(zhì)量分數(shù) 2.2 %） 旨在評估用于測量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：2 x 25 mL
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- SRM 2031c 熔石英中性密度濾光片標準品(250 nm至635 nm)
SRM 2031c 熔融石英上中性密度濾光片（標準品）旨在用于驗證分光光度計在紫外和可見光譜區(qū)域的透射率和吸光度標度。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set (3)
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- SRM 2034 氧化鈥溶液波長標準(240 nm至650 nm)
SRM 2034氧化鈥溶液波長標準(標準品)是一種經(jīng)過認證的轉(zhuǎn)移標準，用于驗證和校準標稱光譜帶寬不超過 3 nm 的紫外和可見吸收分光光度計的波長范圍。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：比色皿
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- SRM 2036 近紅外波長/波數(shù)反射標準品
SRM 2036 近紅外波長 波數(shù)反射（標準品）是一種經(jīng)過認證的傳輸標準，旨在驗證和校準在漫反射模式下運行的波長 (λ) 和波數(shù) (ν) 尺度近紅外 (NIR) 光譜儀。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：each
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- SRM 2093 低能量Charpy V-缺口樣本(自驗證，8毫米射手)
SRM 2096高能Charpy V-缺口標本（標準品）提供的認證值主要用于驗證配備 8 毫米撞針的夏比機器，符合當前 ASTM 標準 E23 [1] 和當前 ISO 標準 148-2 [ 2]。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
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- SRM 2097 高能Charpy V-缺口標本(自驗證，8毫米射手)
SRM 2097 高能Charpy V-缺口標本（標準品）旨在根據(jù)當前的 ASTM 標準 E23 [1] 和當前的 ISO 標準 148-2 [2] 驗證配備 8 毫米撞針的夏比機器。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
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- SRM 2098 超高能量Charpy V-缺口樣本(NIST-驗證，8毫米射手)
SRM 2098 超高能夏比 V 型缺口試樣（標準品）旨在根據(jù)當前 ASTM 標準 E23 [1] 和當前 ISO 標準 148-2 [2] 驗證配備 8 mm 撞針的夏比機器。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
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陳經(jīng)理（銷售）
