SRM 1976c X射線粉末衍射儀器標準品由燒結氧化鋁圓盤組成，用于校準 X 射線粉末衍射設備的線位置和強度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結氧化鋁圓盤組成。

材料說明：

用于生產此 SRM 的制造工藝是為生產電子元件基板而開發(fā)的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結構），具有片狀顆粒形態(tài)。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm。圓盤的壓實過程導致軸對稱紋理基面趨向于與圓盤表面平行。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進行液相燒結。未檢測到結晶雜質。液相燒結中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結溫度冷卻碎片的過程中松弛。這導致微應變的最小發(fā)展及其相關的線展寬；盡管可以檢測到一些微應變，因為具有 tanθ 依賴性的高斯展寬。鑒于此，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM 1976c 可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值。但是，不推薦使用 SRM 1976c 進行定量微觀結構分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專用生產運行中制造的，以確保微觀結構在晶粒尺寸、形狀、微應變和紋理方面的一致性。

存儲和使用說明：

SRM 1976c  X射線粉末衍射儀器響應標準品由燒結氧化鋁襯底組成，本質上與1991年以來可用的NIST SRM相同。雖然沒有進行長期穩(wěn)定性研究，但在實驗室條件下使用時，我們沒有證據(jù)表明該SRM的衍射性能有任何退化。此外，眾所周知鋁是一種高度穩(wěn)定的氧化物。表面被其他晶體材料污染可能導致數(shù)據(jù)中出現(xiàn)不雜質線。暴露在x射線下可能會變色；這并不影響認證。

使用（SRM 1976c的安裝）：

SRM的光盤格式被選擇以適應許多樣品支架的幾何形狀。衍射數(shù)據(jù)只能從標簽對面收集。在制造過程中，用于制造圓盤的沖壓操作導致圓盤表面的邊緣相對于中心凹陷約10 μm。由于氧化鋁對x射線的衰減很低，這并不被認為是一個重大的困難，安裝過程中的高度調整應該相對于圓盤的中心（另見“使用srm 1976c測試儀器靈敏度”）。

來源材料：用于SRM 1976c  X射線粉末衍射儀器響應標準品的氧化鋁盤由International Business Machines Corporation，East Fishkill， NY制造。

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